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学术报告:XPS测试与图谱浅析

作者:        发布于:2018-11-27
   报告内容:XPS基本原理与测试要求、XPS常见错误分析、荷电扣除(碳校正)、谱峰拟合(单峰拟合、双峰拟合、NLSSF拟合)等。

  主讲人:方德

  时间:20181129日下午2:30

  地点:材料研究与测试中心学术报告厅

  

  报告人简介:

    方德,材料研究与测试中心实验师,从事X射线光电子能谱检测及研究工作。

  

   欢迎广大师生踊跃参加!

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